無線電波、可見光、紫外線等同X射線一樣，它們只是彼此之間占據(jù)不同的波長范圍而已，本質(zhì)上都屬于電磁波。通常使用的X射線源是X射線管在X射線分析儀器上，這是一種真空封閉管中裝有陰陽極，X射線的產(chǎn)生是因?yàn)殛帢O會(huì)在管子兩極間加上高電壓時(shí)，發(fā)射出高速電子流撞擊金屬陽極靶。X射線衍射的基本原理是，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，當(dāng)X射線照射到晶體物質(zhì)上，這些規(guī)則排列的入射X射線波長與原子間距離有相同數(shù)量級(jí)，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)不同的晶體物質(zhì)具有自己獨(dú)特的衍射樣。

　　可解決的問題：

　　1.可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例，因?yàn)楫?dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例；

　　2.很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度；

　　3.新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)；

　　4.產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)變形、斷裂等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力；