Vanta Element-S測試數(shù)據(jù)通過了上海計量測試技術研究院（華東國家計量測試中心）的計量，儀器結果符合客戶需要的精度要求，圖為工廠人員試用XRF測試標準樣品

　　Vanta Element系列分析儀可以在非常艱苦的工業(yè)環(huán)境中快速獲得分析結果，并在很大程度上提高生產力。

　　今年上半年奧林巴斯授權一級代理澤權儀器在國內率先引進了Vanta Element-S分析儀，該款分析儀搭載了新一代SDD探測器，并采用了與之前Vanta相同的電子器件。憑借其優(yōu)異的性能和相較全功能旗艦款Vanta系列更優(yōu)惠的價格，迅速得到了市場的青睞。本次上海林內有限公司采購的Vanta Element-S分析儀包含了合金檢測（PMI）、鍍層分析和RoHS篩查這三大核心應用。


　　高效檢測，精準識別

　　使用分析儀器在對材料進行分揀的過程中，龐大的數(shù)據(jù)量以及雜亂的材料常常導致檢測的開展十分緩慢。Vanta Element-S分析儀配備有硅漂移探測器（SDD），可對元素進行分析，并在幾秒內對合金進行牌號辨別和分揀，能夠快速有效地測量黑色金屬、鋁、銅、不銹鋼、鎳和金的含量。完成對樣品的檢測之后，屏幕上會顯示出清晰的牌號ID，以及鎂、鋁和硅等輕元素的比較信息。同時，分析儀的SDD探測器可以區(qū)分類似303和304不銹鋼、6061和1100鋁等相似的合金牌號，精準完成識別。

　　Vanta Element-S分析儀的鍍層模式
　　元素配置：可分析的元素為原子數(shù)大于鈦的元素，包括鈦元素。同一種元素不能在多個涂層中被重復分析，包括基底材料。
　　可選的實證單點校準：用戶可以使用一種內部認證的樣本對校準進行調整。
　　層的數(shù)量：Vanta分析儀的鍍層模式可以多測量3層材料的厚度，不過各層材料要足夠薄，以使X射線從底層材料返回到探測器。
　　基底：可以分析任何基底材料，只要基底材料中不包含涂層材料中存在的元素。

　　Vanta Element-S分析儀的RoHS模式
　　Vanta XRF分析儀已被認可為一種現(xiàn)場無損的RoHS篩查工具。使用Vanta分析儀可以對消費產品進行篩查，發(fā)現(xiàn)其中的鉛（Pb）、鎘（Cd）、砷（As）、汞（Hg）、鉻（Cr）及其它有毒金屬，以判斷產品是否符合RoHS的要求。


　　堅固耐用，操作便捷

　　鑒于金屬檢測等工作常常需要在較為惡劣的環(huán)境下開展，潮濕、灰塵會對儀器的性能產生較大影響。Vanta Element-S分析儀通過了IP54評級標準，具備防塵和防潮特性，而且通過了從1.2米（4英尺）高處墜落的測試（MIL-STD-810G），不會因偶爾掉落或推擠而損壞，可在–10°C到45°C的溫度范圍內無壓力持續(xù)運行24小時。
　　為了方便進行野外作業(yè)，Vanta Element-S分析儀還配備了不銹鋼面板和帶有Kapton（聚酰亞胺）網格背襯的Prolene（聚丙烯紡織纖維）窗口。野外作業(yè)過程中需要更換窗口時，無需使用工具即可輕松揭下舊窗口，貼上新窗口。同時，分析儀體型小巧，僅重1.32公斤，方便攜帶，操作便攜性堪比智能手機，大大提升了操作人員的工作效率。